ATE

工廠對更高效測試能力的需求不斷增加

半導製造商正在對自動測試設備（ATE）公司提出更高的要求，要求他們能够快速可靠地設計出滿足不斷增長的 IC 需求的測試系統，並且盡可能少地新增成本。 IC 製造商將測試成本（CoT）視為成本新增項，雖然必需時只從產品利潤中扣除，卻需要不斷增加工廠占地面積，而不能加速週期和提高產量。 ATE 系統製造商需要開發測試系統來滿足新 IC 產品的技術需求，並且不會造成產量損失，隨著更新換代也只會佔用相同或者更少的廠房面積。

高密度、高效率電源模組

高密度和高效率的 Vicor 電源模組使 ATE 系統設計工程師能够實施新的供電網路（PDN）架構，允許在相同或更小尺寸的測試頭上新增測試頭引脚數。新的資料中心、軍事、汽車和工業 IC 消耗的功率不斷增加，並且具有多種不同的電壓。 Vicor 的模組化方法用於 PDN，可使 ATE 製造商能够方便地擴展功率並支持不同的電壓，以實現快速開發和快速上市。