ATE

効果的に工場のテスト能力を上げる必要性が高まる

ICの需要は増え続けており、素早く確実に対応できる半導体自動試験装置 (ATE) が、これまで以上に必要です。ただし、できるだけコストは増やしたくありません。ICメーカーにとって、テストコスト (CoT) は負担でしかありません。テストは必要な工程ですが、それによって、利益率の低下と工場の床面積の増大が続くだけで、サイクルタイムや歩留まりが改善するわけではありません。新しいIC製品に技術的に対応するだけでなく、歩留まりの低下を起こさず、設置面積もこれまでのテスト装置と同じかそれ以下に納まるATEシステムの開発が必要です。

高電力密度・高効率の電源モジュール

高電力密度・高効率なVicorの電源モジュールを採用することで、新しい電力供給ネットワーク (PDN) アーキテクチャを導入できるため、これまでと同じまたはさらに小さいサイズのテストヘッドでテストピンの数を増やすことができます。データセンターや航空宇宙、オートモーティブ、インダストリアル向けの最新ICの消費電力は増え続けており、必要な電圧の種類も増えています。モジュールを組み合わせて電力供給ネットワーク (PDN) を構成するVicor のアプローチを用いれば、供給電力を増やしたり異なる電圧に対応することは容易なので、テスト装置を素早く開発して市場投入することができます。